三(san)豐Mitutoyo 輪廓(kuo)儀(yi)CV-2100系(xi)列

三(san)豐Mitutoyo 輪廓(kuo)儀(yi)CV-2100系(xi)列-產(chan)品特點(dian)與優勢(shi)

CV-2100輪(lun)廓(kuo)測(ce)量(liang)儀(yi)是(shi)實(shi)現(xian)『簡便· 準(zhun)確(que)· 快速』測(ce)量(liang)的輪(lun)廓形(xing)狀(zhuang)測(ce)量(liang)儀(yi)。

● 與測(ce)量(liang)操(cao)作(zuo)相(xiang)關(guan)的配置集(ji)中(zhong)設置在(zai)主機(ji)前(qian)面(mian)，大(da)幅(fu)縮短(duan)了(le)操(cao)作(zuo)流(liu)程。

● 與測(ce)量(liang)操(cao)作(zuo)相(xiang)關(guan)的配置集(ji)中(zhong)設置在(zai)主機(ji)前(qian)面(mian)，大(da)幅(fu)縮短(duan)了(le)操(cao)作(zuo)流(liu)程。

● 裝配(pei)了(le)新開發(fa)的(de)可以簡(jian)便快速垂直移動(dong)的(de)臺架(jia)（僅CV-2100M4裝(zhuang)配），Z軸(zhou)方(fang)向的測(ce)量(liang)高(gao)度可(ke)以(yi)輕松(song)快速的接近或退避(bi)。

● Z1軸(zhou)（檢出器(qi)）裝(zhuang)配(pei)高(gao)精(jing)度圓(yuan)弧標(biao)尺(chi)，通(tong)過直(zhi)讀測(ce)針(zhen)尖&端的(de)圓(yuan)弧軌(gui)道(dao)，減(jian)少(shao)檢測(ce)機(ji)構導(dao)致的誤(wu)差，確(que)保高(gao)精(jing)度和(he)高(gao)分辨(bian)力(li)。可以(yi)像(xiang)模擬方(fang)式那樣切(qie)換(huan)測(ce)量(liang)倍率(lv)，也可以(yi)在(zai)整個測(ce)量(liang)範圍(wei)內進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)，而(er)不(bu)需要(yao)對每(mei)個倍率進行校正。

相(xiang)對測(ce)針(zhen)的進(jin)給方(fang)向，測(ce)針(zhen)可以(yi)按(an)照(zhao)被(bei)測(ce)物(wu)的形(xing)狀(zhuang)上(shang)升或下(xia)降(jiang)的(de)極(ji)限(xian)角(jiao)度叫(jiao)做跟(gen)蹤角(jiao)度。

如圖，測(ce)針(zhen)頂端角(jiao)度為(wei)12º的(de)切(qie)面測(ce)針(zhen)，上升角度77º，下(xia)降(jiang)角(jiao)度87º。

如(ru)果(guo)是(shi)圓錐(zhui)形(xing)測(ce)針(zhen)(30º圓錐(zhui))的(de)話，極(ji)限(xian)傾(qing)斜(xie)度會(hui)變(bian)得緩(huan)和(he)。表面(mian)上看(kan)雖(sui)然是(shi)77º，但(dan)是(shi)，受上(shang)行(xing)斜(xie)面(mian)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度的(de)影(ying)響，會部分存(cun)在(zai)77º以(yi)上(shang)的(de)斜面，測(ce)力(li)也會受(shou)到影響。

根(gen)據測(ce)針(zhen)的頂端半(ban)徑(jing)(0.025mm)，記(ji)錄圖形會成(cheng)為在測(ce)量(liang)物(wu)表面(mian)上滾動的球(qiu)體(ti)的(de)中(zhong)心軌(gui)跡(ji)。通(tong)過對這(zhe)壹(yi)測(ce)針(zhen)的頂端半(ban)徑(jing)進(jin)行數(shu)據處(chu)理(li)上的(de)補(bu)償(chang)，可(ke)以得到精確(que)的測(ce)量(liang)值和(he)形狀(zhuang)記(ji)錄。

由(you)於(yu)X和(he)Z軸(zhou)的(de)檢出器(qi)配(pei)置了(le)刻度，放(fang)大(da)倍(bei)率(lv)精(jing)度不(bu)顯(xian)示百(bai)分比(bi)但(dan)顯(xian)示(shi)各軸(zhou)的(de)直線位置精(jing)度。

這是(shi)測(ce)針(zhen)上下(xia)動(dong)作(zuo)時，測(ce)頭(tou)劃(hua)出的(de)軌(gui)跡(ji)，有圓弧和(he)直線兩(liang)種。

做直(zhi)線運動(dong)時，機械(xie)構(gou)造(zao)復雜，做圓(yuan)弧運(yun)動(dong)時，測(ce)針(zhen)的上(shang)下(xia)移(yi)動(dong)量(liang)較(jiao)大(da)，會(hui)由(you)於(yu)圓(yuan)弧形(xing)變(bian)(δ)而(er)導(dao)致記錄(lu)圖形出現(xian)偏差。(參照(zhao)下(xia)圖“圓弧形(xing)變(bian)")

測(ce)頭(tou)做圓(yuan)弧運(yun)動(dong)時，會在(zai)記錄圖形的X軸(zhou)方(fang)向上出(chu)現(xian)變形(xing)偏差。作為(wei)補(bu)償(chang)圓(yuan)弧變(bian)形(xing)的(de)手(shou)段(duan)有(you):

①機械(xie)補(bu)償(chang)法(fa)：

②電(dian)子(zi)補(bu)償(chang)法(fa)：

③通(tong)過軟件(jian)演算來(lai)補(bu)償(chang)的(de)方(fang)法(fa)：

在(zai)對上(shang)下(xia)方(fang)向上移(yi)動量(liang)較(jiao)大(da)的(de)測(ce)量(liang)物(wu)進行(xing)高(gao)精(jing)度測(ce)量(liang)時，需要(yao)補(bu)償(chang)圓(yuan)弧變(bian)形(xing)。

X軸(zhou)驅(qu)動檢測(ce)壹(yi)般(ban)使(shi)用數(shu)字光柵(zha)尺(chi)進行(xing)檢測(ce)。Z軸(zhou)檢測(ce)方(fang)式有模擬方(fang)式(差動變(bian)壓(ya)器(qi))和(he)數(shu)字光柵(zha)尺(chi)方(fang)式兩(liang)種。模擬方(fang)式會因(yin)為(wei)測(ce)量(liang)倍率(lv)和(he)測(ce)量(liang)範圍(wei)出現(xian)Z軸(zhou)分辨(bian)力(li)的變(bian)化。數(shu)字光柵(zha)尺(chi)則遵(zun)循(xun)光柵(zha)尺(chi)的分辨(bian)力(li)。壹(yi)般(ban)來說(shuo)，數(shu)字光柵(zha)尺(chi)的方(fang)式精度較(jiao)高(gao)。

由(you)於(yu)輪廓(kuo)形狀(zhuang)的(de)斜面(mian)角(jiao)度大(da)或(huo)者有毛刺(ci)存(cun)在(zai)，測(ce)針(zhen)頂端出(chu)現(xian)超負(fu)荷(he)時，為了(le)防止(zhi)測(ce)針(zhen)損(sun)傷，可以自(zi)動停止(zhi)運轉，並發出(chu)蜂鳴警(jing)報(bao)。

壹(yi)般(ban)情(qing)況(kuang)下(xia)，按(an)進(jin)給(gei)方(fang)向(X軸(zhou)方(fang)向)的負(fu)荷(he)和(he)上下(xia)方(fang)向(Z軸(zhou)方(fang)向)的負(fu)荷(he)分別(bie)裝備(bei)。如CV-3200/4500，若(ruo)支臂從(cong)檢出器(qi)的(de)安(an)裝面(mian)脫離(li)下(xia)時會啟(qi)動安(an)裝裝(zhuang)置。

完(wan)成(cheng)測(ce)量(liang)操(cao)作(zuo)後(hou)，可(ke)以按(an)照(zhao)以(yi)下(xia)兩(liang)種方(fang)法(fa)之壹(yi)分析(xi)輪廓形(xing)狀(zhuang)。

數(shu)據處(chu)理(li)裝置和(he)解析(xi)程序(xu)。

測(ce)得的(de)輪(lun)廓形(xing)狀(zhuang)，實(shi)時輸(shu)入到數(shu)據處(chu)理(li)裝置中(zhong)，然後(hou)通(tong)過鼠標(biao)或鍵盤運(yun)行專用的分析(xi)程序(xu)。

角(jiao)度、半(ban)徑(jing)、段(duan)差，和(he)等間(jian)距用數(shu)值直(zhi)接顯示(shi)。

另外(wai)還可(ke)以(yi)輕(qing)松(song)地結(jie)合(he)坐(zuo)標(biao)系(xi)進行(xing)解(jie)析(xi)。記錄圖形經測(ce)針(zhen)半徑(jing)補(bu)償(chang)後(hou)可打(da)印(yin)輸(shu)出。

當(dang)被(bei)測(ce)量(liang)的輪(lun)廓形(xing)狀(zhuang)數(shu)據有(you)標(biao)準(zhun)時，要(yao)根據(ju)基(ji)準(zhun)進(jin)行設計值(zhi)的(de)檢驗。沒有基(ji)準(zhun)或(huo)只檢驗形狀(zhuang)時，可以(yi)用設計數(shu)據與測(ce)量(liang)數(shu)據進(jin)行(xing)擬合(he)。

擬合(he)從(cong)兩(liang)組(zu)數(shu)據來(lai)求(qiu)偏差量，求(qiu)二次方(fang)的和(he)為最(zui)小值(zhi)的坐標系(xi)，使(shi)測(ce)量(liang)數(shu)據與設計數(shu)據重合(he)。

與其(qi)說對圖形顯示(shi)的尺(chi)寸的解(jie)析(xi)，不如說(shuo)是(shi)作為(wei)“形(xing)狀(zhuang)"與設計數(shu)據的(de)比(bi)較(jiao)並顯示(shi)和(he)記錄(lu)其(qi)偏差。另外(wai)，將基(ji)準(zhun)測(ce)量(liang)物(wu)轉變(bian)成(cheng)設計的(de)數(shu)據與測(ce)量(liang)數(shu)據進(jin)行(xing)比(bi)較(jiao)。尤其(qi)當這(zhe)壹(yi)部(bu)分的形狀(zhuang)影(ying)響商品性(xing)能(neng)的(de)時候，或(huo)由(you)於與組(zu)合(he)部(bu)件(jian)的(de)關(guan)系(xi)產生影響時使(shi)用較(jiao)多(duo)。

由於測(ce)針(zhen)跟蹤(zong)角度的(de)限(xian)制，測(ce)量(liang)圖形會被(bei)分割(ge)成(cheng)多個部分分別(bie)進行(xing)測(ce)量(liang)和(he)評估。數(shu)據合(he)成(cheng)功(gong)能(neng)解(jie)決了這個問(wen)題(ti)，可(ke)將(jiang)其(qi)拼接合(he)成(cheng)為壹(yi)個完(wan)整(zheng)的(de)圖形能(neng)。

由(you)此(ci)，可(ke)以被測(ce)物(wu)的整(zheng)體(ti)圖形得以(yi)顯(xian)示，從(cong)而(er)進(jin)行(xing)各種解析(xi)。

三(san)豐Mitutoyo 輪廓(kuo)儀(yi)CV-2100系(xi)列-產(chan)品陣(zhen)容