全(quan)自(zi)動輪廓形(xing)狀(zhuang)測(ce)量(liang)儀(yi)解決(jue)方案

全(quan)自(zi)動輪廓形(xing)狀(zhuang)測(ce)量(liang)儀(yi)解決(jue)方案：

FORMTRACERAvant C3000系(xi)列是(shi)壹(yi)款(kuan)高性能(neng)、易操作、具有*進(jin)設(she)計(ji)的(de)輪廓測(ce)量(liang)儀(yi)。

●C3000/4000系(xi)列標(biao)配有(you)驅(qu)動器傾斜裝置。接(jie)近(jin)測(ce)量(liang)點變(bian)得更(geng)容(rong)易，可以(yi)輕(qing)松(song)測量(liang)大型(xing)工件(jian)。

●配備了(le)易操作性的(de)新(xin)型操(cao)作盒。新(xin)增的(de)工件(jian)程(cheng)序(xu)鍵(jian)，支(zhi)持手動操作創(chuang)建測(ce)量(liang)工件(jian)程(cheng)序(xu)。

●C3000系(xi)列配置(zhi)通用輪廓檢(jian)出(chu)器C-3200。C3000系(xi)列的(de)示(shi)值誤差：X軸:(0.8＋0.015L)μm，Z1軸：±(1.2＋|2H|/100)μm。

全(quan)自(zi)動輪廓形(xing)狀(zhuang)測(ce)量(liang)儀(yi)解決(jue)方案-產品陣(zhen)容(rong)：

相對(dui)測(ce)針的(de)進(jin)給(gei)方(fang)向(xiang)，測(ce)針可以(yi)按(an)照被(bei)測(ce)物的(de)形(xing)狀(zhuang)上(shang)升或(huo)下降的(de)極(ji)限角(jiao)度(du)叫做(zuo)跟蹤角(jiao)度(du)。

如圖，測(ce)針頂端角(jiao)度(du)為12º的(de)切(qie)面(mian)測針，上升角(jiao)度(du)77º，下降角(jiao)度(du)87º。

如果是(shi)圓(yuan)錐(zhui)形(xing)測(ce)針(30º圓(yuan)錐(zhui))的(de)話，極(ji)限傾斜度(du)會變(bian)得緩和。表面(mian)上看(kan)雖然(ran)是77º，但(dan)是(shi)，受(shou)上行斜面(mian)表面(mian)粗糙(cao)度(du)的(de)影(ying)響(xiang)，會部分(fen)存在77º以(yi)上的(de)斜面(mian)，測力(li)也會受到(dao)影(ying)響(xiang)。

根據(ju)測(ce)針的(de)頂端半徑(0.025mm)，記(ji)錄(lu)圖(tu)形(xing)會成為在測(ce)量(liang)物表面(mian)上滾(gun)動的(de)球(qiu)體的(de)中(zhong)心軌(gui)跡(ji)。通過(guo)對(dui)這(zhe)壹(yi)測(ce)針的(de)頂端半徑進(jin)行數(shu)據(ju)處(chu)理(li)上(shang)的(de)補(bu)償，可以(yi)得到精(jing)確(que)的(de)測(ce)量(liang)值和形(xing)狀(zhuang)記(ji)錄。

由於X和Z軸的(de)檢(jian)出器配置(zhi)了(le)刻(ke)度(du)，放大倍率精(jing)度(du)不顯示百分比(bi)但(dan)顯示各(ge)軸的(de)直(zhi)線位(wei)置精(jing)度(du)。

這(zhe)是(shi)測(ce)針上下動作時，測(ce)頭劃出的(de)軌(gui)跡(ji)，有圓(yuan)弧和直線(xian)兩種(zhong)。

做(zuo)直(zhi)線運(yun)動時，機械構(gou)造(zao)復雜，做圓(yuan)弧運(yun)動時，測針的(de)上(shang)下移動量(liang)較(jiao)大，會由於圓(yuan)弧形(xing)變(bian)(δ)而導致記錄(lu)圖形(xing)出(chu)現偏差。(參照下圖“圓(yuan)弧形(xing)變(bian)")

測頭做圓(yuan)弧運(yun)動時，會在記(ji)錄(lu)圖形(xing)的(de)X軸方向(xiang)上(shang)出(chu)現(xian)變(bian)形(xing)偏差。作為補償(chang)圓(yuan)弧變(bian)形(xing)的(de)手段(duan)有:

①機(ji)械補償法：

②電子(zi)補償(chang)法：

③通過(guo)軟(ruan)件(jian)演(yan)算(suan)來補償的(de)方(fang)法：

在對(dui)上(shang)下方向(xiang)上(shang)移動量(liang)較(jiao)大的(de)測(ce)量(liang)物進行高精(jing)度(du)測量(liang)時，需(xu)要(yao)補償(chang)圓(yuan)弧變(bian)形(xing)。

X軸驅(qu)動檢測壹(yi)般(ban)使(shi)用(yong)數(shu)字光(guang)柵(zha)尺(chi)進(jin)行檢測(ce)。Z軸檢測(ce)方(fang)式(shi)有模(mo)擬(ni)方(fang)式(shi)(差動變(bian)壓器)和數(shu)字光(guang)柵(zha)尺(chi)方(fang)式(shi)兩種(zhong)。模(mo)擬(ni)方式(shi)會因(yin)為測量(liang)倍率和測量(liang)範圍(wei)出現Z軸分辨(bian)力(li)的(de)變(bian)化。數(shu)字光(guang)柵(zha)尺(chi)則(ze)遵(zun)循(xun)光(guang)柵(zha)尺(chi)的(de)分(fen)辨力。壹(yi)般(ban)來說，數(shu)字光(guang)柵(zha)尺(chi)的(de)方(fang)式(shi)精(jing)度(du)較(jiao)高。

由於輪廓形(xing)狀(zhuang)的(de)斜面(mian)角(jiao)度(du)大或(huo)者(zhe)有毛刺(ci)存在，測(ce)針頂端出現超(chao)負(fu)荷時，為了防(fang)止(zhi)測(ce)針損(sun)傷(shang)，可(ke)以(yi)自動停止運(yun)轉(zhuan)，並發(fa)出蜂鳴(ming)警(jing)報(bao)。

壹(yi)般(ban)情況下，按(an)進(jin)給(gei)方(fang)向(xiang)(X軸方向(xiang))的(de)負(fu)荷和上下方向(xiang)(Z軸方向(xiang))的(de)負(fu)荷分別(bie)裝備。如CV-3200/4500，若支(zhi)臂(bi)從(cong)檢出(chu)器的(de)安裝(zhuang)面(mian)脫(tuo)離(li)下時會啟動安裝(zhuang)裝(zhuang)置。

完(wan)成測量(liang)操作後，可(ke)以(yi)按(an)照以(yi)下兩種方法之壹(yi)分(fen)析輪廓形(xing)狀(zhuang)。

數(shu)據(ju)處(chu)理(li)裝(zhuang)置和解析(xi)程(cheng)序(xu)。

測(ce)得的(de)輪廓形(xing)狀(zhuang)，實(shi)時(shi)輸(shu)入到(dao)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)裝(zhuang)置中(zhong)，然(ran)後通過(guo)鼠(shu)標(biao)或(huo)鍵(jian)盤(pan)運(yun)行專用(yong)的(de)分(fen)析程(cheng)序(xu)。

角(jiao)度(du)、半徑(jing)、段(duan)差，和等(deng)間距用(yong)數(shu)值直(zhi)接(jie)顯示。

另(ling)外(wai)還可以(yi)輕(qing)松(song)地(di)結(jie)合(he)坐(zuo)標(biao)系(xi)進行解析(xi)。記錄圖(tu)形(xing)經(jing)測(ce)針半徑補償(chang)後(hou)可(ke)打(da)印(yin)輸(shu)出。

當被(bei)測(ce)量(liang)的(de)輪廓形(xing)狀(zhuang)數(shu)據(ju)有(you)標(biao)準時(shi)，要(yao)根據(ju)基(ji)準進(jin)行設(she)計(ji)值(zhi)的(de)檢(jian)驗(yan)。沒(mei)有基(ji)準或(huo)只(zhi)檢(jian)驗(yan)形(xing)狀(zhuang)時(shi)，可以(yi)用設(she)計(ji)數(shu)據(ju)與測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)進(jin)行擬合(he)。

擬(ni)合從(cong)兩組(zu)數(shu)據(ju)來求偏差量(liang)，求二次方的(de)和為最(zui)小(xiao)值的(de)坐(zuo)標系(xi)，使(shi)測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)與設(she)計(ji)數(shu)據(ju)重(zhong)合(he)。

與其(qi)說對(dui)圖(tu)形(xing)顯示的(de)尺(chi)寸(cun)的(de)解析(xi)，不如說是作為“形(xing)狀(zhuang)"與設(she)計(ji)數(shu)據(ju)的(de)比(bi)較(jiao)並顯示和記錄(lu)其偏差。另外(wai)，將基(ji)準測(ce)量(liang)物轉(zhuan)變(bian)成設(she)計(ji)的(de)數(shu)據(ju)與測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)進(jin)行比(bi)較(jiao)。尤其當(dang)這(zhe)壹(yi)部(bu)分的(de)形(xing)狀(zhuang)影(ying)響(xiang)商(shang)品性(xing)能的(de)時(shi)候，或(huo)由於與組(zu)合(he)部(bu)件(jian)的(de)關(guan)系(xi)產生(sheng)影(ying)響(xiang)時(shi)使(shi)用(yong)較(jiao)多(duo)。

由於測針跟蹤角(jiao)度(du)的(de)限(xian)制，測量(liang)圖形(xing)會被(bei)分(fen)割(ge)成多(duo)個(ge)部分(fen)分(fen)別(bie)進行測量(liang)和評(ping)估(gu)。數(shu)據(ju)合(he)成功能解決(jue)了這(zhe)個(ge)問(wen)題(ti)，可將其(qi)拼接(jie)合(he)成為壹(yi)個(ge)完(wan)整(zheng)的(de)圖(tu)形(xing)能(neng)。

由此，可以(yi)被(bei)測(ce)物的(de)整(zheng)體圖(tu)形(xing)得以(yi)顯示，從(cong)而進(jin)行各種(zhong)解析(xi)。