三(san)豐(feng)輪(lun)廓(kuo)測(ce)量(liang)儀(yi)

三(san)豐(feng)輪(lun)廓(kuo)測(ce)量(liang)儀(yi)-產品(pin)特點(dian)與(yu)優勢(shi)：

● 與(yu)測(ce)量(liang)操作相(xiang)關(guan)的(de)配(pei)置(zhi)集中設置(zhi)在(zai)主機前(qian)面(mian)，大(da)幅(fu)縮(suo)短了操作流(liu)程。

● 裝(zhuang)配(pei)了(le)新開(kai)發(fa)的(de)可以簡(jian)便(bian)快(kuai)速垂直(zhi)移(yi)動(dong)的(de)臺架（僅CV-2100M4裝配(pei)），Z軸(zhou)方(fang)向的(de)測(ce)量(liang)高度可以輕松快(kuai)速的接近或退(tui)避(bi)。

● Z1軸(zhou)（檢出(chu)器）裝(zhuang)配(pei)高精度圓(yuan)弧(hu)標(biao)尺，通(tong)過(guo)直(zhi)讀測(ce)針尖(jian)&端(duan)的(de)圓(yuan)弧(hu)軌道(dao)，減少檢測(ce)機構導(dao)致的(de)誤差，確(que)保高精度和高分(fen)辨(bian)力(li)。可以像(xiang)模擬(ni)方(fang)式那樣切換測(ce)量(liang)倍(bei)率(lv)，也可以在(zai)整(zheng)個測(ce)量(liang)範圍(wei)內(nei)進行(xing)測(ce)量(liang)，而不需(xu)要對(dui)每(mei)個倍(bei)率(lv)進行校(xiao)正。

相(xiang)對(dui)測(ce)針的(de)進(jin)給(gei)方(fang)向，測(ce)針可以按(an)照被(bei)測(ce)物(wu)的形狀上(shang)升或下(xia)降(jiang)的(de)極限角(jiao)度叫(jiao)做(zuo)跟(gen)蹤(zong)角度(du)。

如(ru)圖(tu)，測(ce)針頂(ding)端(duan)角(jiao)度(du)為(wei)12º的切面(mian)測(ce)針，上(shang)升角度77º，下降(jiang)角(jiao)度(du)87º。

如(ru)果(guo)是(shi)圓錐(zhui)形測(ce)針(30º圓(yuan)錐(zhui))的話，極限傾斜(xie)度會變得緩和。表面(mian)上(shang)看(kan)雖然(ran)是(shi)77º，但是(shi)，受(shou)上(shang)行斜(xie)面(mian)表(biao)面(mian)粗(cu)糙度的影(ying)響(xiang)，會部分(fen)存在(zai)77º以上(shang)的斜(xie)面(mian)，測(ce)力(li)也(ye)會受(shou)到(dao)影(ying)響(xiang)。

根(gen)據測(ce)針的(de)頂(ding)端(duan)半(ban)徑(jing)(0.025mm)，記(ji)錄圖(tu)形會成(cheng)為(wei)在測(ce)量(liang)物(wu)表面(mian)上(shang)滾動的(de)球(qiu)體(ti)的(de)中心(xin)軌跡。通過(guo)對(dui)這(zhe)壹測(ce)針的(de)頂(ding)端(duan)半(ban)徑(jing)進(jin)行(xing)數據(ju)處(chu)理上的補償，可以得到(dao)精確(que)的測(ce)量(liang)值和形狀記(ji)錄。

由於(yu)X和Z軸(zhou)的檢(jian)出器配(pei)置(zhi)了刻度(du)，放大(da)倍(bei)率(lv)精度不顯示(shi)百(bai)分(fen)比(bi)但顯示(shi)各(ge)軸(zhou)的直(zhi)線位置精度。

這(zhe)是(shi)測(ce)針上(shang)下(xia)動(dong)作時，測(ce)頭(tou)劃出的軌跡，有圓(yuan)弧(hu)和直(zhi)線兩(liang)種(zhong)。

做(zuo)直(zhi)線運(yun)動(dong)時，機械(xie)構造(zao)復雜，做(zuo)圓(yuan)弧(hu)運(yun)動(dong)時，測(ce)針的(de)上(shang)下(xia)移(yi)動(dong)量(liang)較大(da)，會由於(yu)圓(yuan)弧(hu)形變(δ)而導(dao)致記(ji)錄圖(tu)形出(chu)現(xian)偏差(cha)。(參(can)照下(xia)圖(tu)“圓(yuan)弧(hu)形變")

測(ce)頭(tou)做(zuo)圓(yuan)弧(hu)運(yun)動(dong)時，會在(zai)記(ji)錄圖(tu)形的(de)X軸(zhou)方(fang)向上(shang)出現(xian)變形偏差(cha)。作(zuo)為補償圓弧(hu)變形的(de)手段有(you):

①機械(xie)補償法：

②電子(zi)補償法：

③通過(guo)軟(ruan)件(jian)演(yan)算來(lai)補償的方(fang)法：

在對(dui)上(shang)下方(fang)向上(shang)移(yi)動(dong)量(liang)較大(da)的(de)測(ce)量(liang)物(wu)進行高精度測(ce)量(liang)時，需要(yao)補償圓弧(hu)變形。

X軸(zhou)驅動檢(jian)測(ce)壹般使(shi)用數字光(guang)柵尺(chi)進(jin)行(xing)檢測(ce)。Z軸(zhou)檢測(ce)方(fang)式有(you)模擬(ni)方(fang)式(差(cha)動變壓器)和數字光(guang)柵尺(chi)方(fang)式兩(liang)種(zhong)。模擬(ni)方(fang)式會因(yin)為(wei)測(ce)量(liang)倍(bei)率(lv)和測(ce)量(liang)範圍(wei)出(chu)現(xian)Z軸(zhou)分(fen)辨(bian)力(li)的(de)變化。數字光(guang)柵尺(chi)則(ze)遵(zun)循光柵尺(chi)的(de)分(fen)辨(bian)力(li)。壹般來(lai)說(shuo)，數字光(guang)柵尺(chi)的(de)方(fang)式精度較(jiao)高。

由於(yu)輪(lun)廓形狀的(de)斜(xie)面(mian)角(jiao)度(du)大(da)或者(zhe)有(you)毛刺存在(zai)，測(ce)針頂(ding)端(duan)出(chu)現(xian)超負荷(he)時，為了(le)防(fang)止測(ce)針損傷(shang)，可以自(zi)動停(ting)止(zhi)運(yun)轉，並(bing)發(fa)出(chu)蜂(feng)鳴警報。

壹般情(qing)況下，按(an)進給(gei)方(fang)向(X軸(zhou)方(fang)向)的(de)負荷(he)和上下(xia)方(fang)向(Z軸(zhou)方(fang)向)的(de)負荷(he)分(fen)別裝備(bei)。如(ru)CV-3200/4500，若(ruo)支(zhi)臂(bi)從(cong)檢(jian)出(chu)器的(de)安(an)裝面(mian)脫(tuo)離(li)下(xia)時會啟(qi)動(dong)安(an)裝裝(zhuang)置(zhi)。

完成(cheng)測(ce)量(liang)操作後(hou)，可以按(an)照以下(xia)兩種(zhong)方(fang)法之壹分(fen)析(xi)輪(lun)廓(kuo)形狀。

數據(ju)處(chu)理裝置和解(jie)析(xi)程(cheng)序(xu)。

測(ce)得的輪(lun)廓形狀，實(shi)時輸入(ru)到(dao)數據(ju)處(chu)理裝置中，然後(hou)通(tong)過(guo)鼠標(biao)或鍵(jian)盤(pan)運行專(zhuan)用的(de)分(fen)析(xi)程(cheng)序(xu)。

角(jiao)度(du)、半徑(jing)、段差(cha)，和等間距用(yong)數值(zhi)直(zhi)接顯示(shi)。

另(ling)外還可以輕松地(di)結(jie)合坐標(biao)系進(jin)行解(jie)析(xi)。記(ji)錄圖(tu)形經(jing)測(ce)針半(ban)徑(jing)補償後(hou)可打印輸出。

當(dang)被(bei)測(ce)量(liang)的輪(lun)廓(kuo)形狀數據(ju)有(you)標(biao)準時，要根(gen)據基(ji)準進(jin)行設計(ji)值(zhi)的(de)檢(jian)驗(yan)。沒有基準或只(zhi)檢(jian)驗(yan)形狀時，可以用(yong)設計(ji)數據(ju)與(yu)測(ce)量(liang)數據(ju)進(jin)行(xing)擬(ni)合。

擬(ni)合從(cong)兩(liang)組(zu)數據(ju)來(lai)求(qiu)偏差(cha)量(liang)，求(qiu)二(er)次(ci)方(fang)的和為最(zui)小(xiao)值的(de)坐標(biao)系，使(shi)測(ce)量(liang)數據(ju)與(yu)設計(ji)數據(ju)重(zhong)合(he)。

與其(qi)說對(dui)圖(tu)形顯示(shi)的(de)尺寸的(de)解(jie)析(xi)，不如(ru)說(shuo)是(shi)作為“形狀"與(yu)設計(ji)數據(ju)的(de)比(bi)較(jiao)並(bing)顯示(shi)和記(ji)錄其(qi)偏差(cha)。另(ling)外，將(jiang)基(ji)準測(ce)量(liang)物(wu)轉變成(cheng)設計(ji)的(de)數據(ju)與(yu)測(ce)量(liang)數據(ju)進(jin)行(xing)比(bi)較(jiao)。尤(you)其(qi)當(dang)這(zhe)壹部分(fen)的(de)形狀影(ying)響(xiang)商品(pin)性能的時候，或由於(yu)與(yu)組(zu)合部件(jian)的(de)關(guan)系產(chan)生影(ying)響(xiang)時使(shi)用較多。

由於(yu)測(ce)針跟(gen)蹤(zong)角(jiao)度的限(xian)制，測(ce)量(liang)圖形會被(bei)分(fen)割(ge)成(cheng)多個部分(fen)分(fen)別進行(xing)測(ce)量(liang)和評估(gu)。數據(ju)合(he)成(cheng)功(gong)能解(jie)決(jue)了這(zhe)個問題，可將(jiang)其(qi)拼接(jie)合成(cheng)為(wei)壹個完(wan)整(zheng)的圖(tu)形能。

由此，可以被(bei)測(ce)物(wu)的整(zheng)體(ti)圖(tu)形得以顯示(shi)，從(cong)而進行(xing)各(ge)種(zhong)解(jie)析(xi)。

三(san)豐(feng)輪(lun)廓(kuo)測(ce)量(liang)儀(yi)產品(pin)陣容(rong)：